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2020
Defect Detection on Andean Potatoes using Deep Learning and Adaptive Learning
De La Cruz Casano, C., Catano Sanchez, M., Rojas Chavez, F. & Vicente Ramos, W., 21 oct. 2020, Proceedings of the 2020 IEEE Engineering International Research Conference, EIRCON 2020. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 9254023. (Proceedings of the 2020 IEEE Engineering International Research Conference, EIRCON 2020).Producción científica: Libro o Capítulo del libro › Contribución a la conferencia › revisión exhaustiva
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